泰瑞达交付第8000台J750半导体测试系统

2024年5月21日，全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达（NASDAQ:TER）今日宣布，与独立第三方集成电路测试服务企业伟测科技共同达成一项里程碑式结果，暨顺利交付第 8,000 台 J750 半导体测试平台。

泰瑞达 J750 测试机包括晶圆分类和封装测试解决方案，适用于微控制器单元、无线设备、图像传感器等，已在全球各大半导体芯片制造商工厂中广泛部署。J750 测试机在质量、上市时间和成本效益方面占据行业领先优势，有助于提高产能、增加工位数，减少单工位测试时长，并优化并行测试效率。

伟测科技致力于为中国及海外的先进无晶圆厂集成电路设计公司提供测试服务和生产能力。该公司的测试范围包括消费电子、汽车 SoC 等多种产品，服务范围涵盖汽车、计算、移动、功率和消费产品等不同终端产品领域，致力于帮助其支柱性客户生产大批量、多样化产品。

伟测科技首席执行官骈文胜表示：“自伟测科技七年前创立之初，泰瑞达便作为我们不可或缺的重要合作伙伴，始终给予我们坚定的支持。多年的合作经验使我们感受到泰瑞达测试设备的优异性能。其 J750 系统在 MCU/SoC 测试领域展现出优越的质量、可靠性和可扩展性，我们也因此将其作为首选平台。正是基于对这一杰出平台的信赖与投入，我们在业务上不断精进，并在半导体测试行业竞争中保持领先地位。”

伟测科技在量产和测试工程中部署了超过 100 台泰瑞达 SoC 测试设备，其中包括首批运抵中国的 UltraFLEXplus 测试系统。

泰瑞达 SoC 产品营销副总裁兼总经理 Regan Mills 表示：“泰瑞达团队始终致力于与全球客户紧密合作，为其打造出色测试解决方案，助其适应日益多样化的半导体产品市场。这一崭新的里程碑不仅是对我们双方深厚合作伙伴关系的热烈祝贺，更是对伟测科技瞩目成长的高度赞扬，同时也进一步巩固了其作为行业领军者的前沿地位。”

经过验证的平台和屡获殊荣的软件

泰瑞达的 J750 系列是先进的 MCU 设备测试解决方案，适用于汽车和消费应用以及图像传感器测试。该系列能持续提供可靠、可重复的设备测试结果，也因此深受广泛汽车半导体供应商认可。J750 利用泰瑞达屡获殊荣的 IG-XL 软件平台来帮助验证对汽车市场至关重要的测试程序。对于追求零缺陷和多工位产能的半导体制造商而言，采用“零占用空间”设计的 J750 堪称测试质量标杆。

此外，IG-XL 软件平台对于快速程序开发非常关键，能够自动扩展以支持多工位测试，进而节省大量开发时间和成本，与同类 ATE 软件系统相比，可将多工位测试程序的开发速度提高 30%。